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光學3D共聚焦顯微鏡PZ-CS3500系統輕松解決以上不足,*突破顯微鏡的光學 固有限制。可以在10秒之內得到樣品的三維立體圖像。可以輕松的對樣品不同高度進行優質成 像,得到平面優質圖片,繼而構建3D模型,并通過智能測量模式,準確測量三維空間尺寸。
半導體/FPD檢測顯微鏡采用易用設計,能夠提供 300mm 晶圓、平板顯示器、印刷電路板、以及其他大型樣本的高品質觀察。該產品采用靈活的模塊設計,能夠提供適用于多種檢查用途的觀察系統。通過與 Stream 圖像分析軟件結合,從觀察到報告生成在內的整體檢查過程都變得簡單而流暢。