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金相測量顯微鏡系列是一種集軟件、光、機、電一體的高精度、高效率的顯微測量儀器;是觀察、測量和處理系統化的顯微鏡陣容;可以作為觀察顯微鏡,用相對量測法檢查工件表面粗糙度等非接觸測量為目的 的各種精密加工業,是計量室、實驗室以及生產車間*的計量檢測設備之一。
3D超景深高倍顯微鏡采用HP-CCD圖像傳感器核心,1/2CCD(SONY)保證了和目鏡觀察同步放大倍率,采用D65光源自動校正,對于非標準白光光源自動背景補償。圖像色彩真實還原,消除了傳統數字圖像偏黃背景現象。
納米白光干涉儀 表面細微三維形貌測量系統基于白光干涉儀原理、結合Z向精密壓電掃描模塊和三維重建算法準確獲 得各種精密器件和材料表面形貌數據,適用于反 射率0.05%-100%、超光滑至粗糙等多種表面測量求,能夠實現納米級精度測量、重構表面形 貌3D輪廓。
品智創思APO超長半導體高倍測金相量顯微鏡是為檢測微波器件封裝、電子陶瓷封裝芯片、光通訊器件、TO封裝、蝶形封裝激光器、集成外腔半導體激光器、晶振封裝、濾波器封裝、集成電路封裝等有較高腔體產品檢測專業打造的,填補高倍率、高工作距離這一雙高檢測金相顯微鏡領域市場發展空白。不同于傳統的金相顯微鏡,
國產全自動超景深3D顯微鏡可以在10秒之內得到樣品的三維立體圖像。可以輕松的對樣品不同高度進行優質成 像,得到平面優質圖片,繼而構建3D模型,并通過智能測量模式,準確測量三維空間尺寸。在得到優質平面圖像/3D圖像的同時,本系統還提供共焦點云的全自由度模型三維觀察使得用戶能夠從任意角度觀察樣品,系統通過一體化的設計,可以實現高速自動顯微鏡3D觀察、測量。